导读:本文包含了接触式智能卡论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:读写设备,国际标准,测试,性能
接触式智能卡论文文献综述
史春腾[1]（2019）在《基于ISO/IEC 14443协议非接触式智能卡读写设备测试方法研究》一文中研究指出随着行业发展,智能卡读写设备的应用越来越广泛,应用场景越来越复杂。对于目前国内读写设备质量参差不齐的现状,为了推动读写设备质量提升,研究ISO/IEC 14443系列国际标准的技术要求,研究PCD(接近式耦合装置,即读写设备)测试方法与流程,以及PCD测试装置。PCD测试分为叁部分:物理特性,射频信号包络及强度,初始化和防冲突。其中对性能影响最大的是射频信号包络及强度。本文展望了射频信号包络及强度改良的测试方向。(本文来源于《中国标准化》期刊2019年21期）
杜文烽[2]（2018）在《基于ISO14443协议非接触式智能卡的边信道攻击研究及实现》一文中研究指出随着非接触式智能卡的应用越来越广泛,人们对智能卡安全性提出了更高的要求,尤其是在金融等行业,智能卡的安全性尤为重要。本文主要研究非接触式智能卡的安全性,论文讨论了一种非接触式智能卡电磁辐射信息采集方法,并设计、制作和测试了电磁辐射信息平台。利用该采集平台,采集了某类非接触式智能卡的电磁泄露信息,进行了常规时频域分析和边信道密钥分析,利用DEMA、CEMA等电磁攻击方法对目标卡片实施了攻击,并对电磁泄露信息采集、信号预处理、密码分析算法等内容进行了测试和评估。本文首先介绍了非接触式智能卡的工作原理、相应的国际标准ISO14443-A协议、芯片的操作系统、通用指令集以及片内DES加密算法等内容。然后阐述了基于边信道攻击的电磁信息泄露机理、搭建了一个通用电磁泄露信息采集平台。在该平台中,讨论了信号预处理模块的作用和意义,设计、制作、测试了几种预处理方法,对比分析了预处理的效果。其中,本文把预处理模块分为模拟预处理和数字预处理两类。论文分别从理论效果、实现代价、实际效果等多方面进行了预处理方法分析和评价。本文利用自主设计的电磁泄露信息采集平台,采集了多组某非接触式卡的电磁泄露信息。然后对这些数据进行滤波、对齐、算法分析等边信道攻击。在攻击曲线的数目、预处理方式和对应攻击曲线频率分量不同的情况下,能得到攻击出的第一轮子密钥。根据相关电磁攻击的第一轮子密钥对不同的预处理方法进行性能评估,总结出利用电磁攻击方法进行攻击时需要的能量迹数目和非接触式CPU卡的安全性能。本文设计的电磁辐射信息采集平台不仅可用于非接触式智能卡的电磁泄露信息采集和分析,也可以用于一般的智能卡、密码芯片等信息安全设备的电磁泄露采集和分析,可作为一种边信道攻击的电磁信息采集通用平台。(本文来源于《电子科技大学》期刊2018-04-28）
狄辉[3]（2018）在《非接触式CPU智能卡读写器系统的设计与实现》一文中研究指出RFID技术是一种非接触式的自动识别技术,它最大的优点是快速扫描、移动物体的识别和非接触式识别。RFID技术的出现可以追溯到二十世纪30年代,经过几十年的不断革新和突破,射频识别技术已经深入到当今社会、生活、军事、经济法律和金融的方方面面。RFID技术的发展大大加速了智能卡的发展。自1993年国家“金卡工程”启动以来,经过二十多年的发展,智能卡已经从IC卡时代逐渐过渡到了CPU智能卡的时代。基于RFID的非接触式CPU智能卡的应用遍布生活的方方面面,大到城市一卡通,小到个人信用卡等,这也促进了非接触式CPU智能卡的读写器终端的发展。基于此,本文旨在设计一款读写器终端,该读写器终端能够读写非接触式的CPU智能卡,能够和上位机进行通信,且包含了LCD和键盘等良好的人机交互功能。首先,本文介绍了课题研究的背景和发展现状,并且详细分析了CPU卡的相关技术及ISO14443非接触式国际标准协议。本文只根据Type A类智能卡做出研究。其次,本文对系统的硬件电路部分进行了设计。先给出整体的框架结构,然后根据需求,选择性能优良的STM32F103RBT6作为本系统的主控芯片,选择RC632作为本系统的射频收发芯片。在此基础上,设计相应的控制电路、滤波电路和接口电路等。在射频收发模块,我们根据阻抗、增益、品质因数等相关因素,设计出最适合本系统的射频天线。同时,针对通信模块和人机交互模块我们也做出了相应的设计。再次,对相应模块的软件部分进行了设计。在对CPU软件流程设计中,采用了RR调度算法。在射频收发模块,在IOS14443协议的半双工分组传输基础上,首先对芯片物理层的FIFO缓冲区、数据链路层以及应用层的工作模式进行了分析,并根据这叁个层次设计出相应的程序。在键盘扫描的部分,设计了一种基于状态机的键盘扫描的方法。最后,对软硬件部分进行测试与调试。经测试,系统各模块达到了预期目标,可以有效的读取非接触式CPU智能卡,具有一定的实用价值。(本文来源于《杭州电子科技大学》期刊2018-03-01）
徐良[4]（2017）在《非接触智能卡的研究和设计》一文中研究指出随着我国市场经济的发展和金融现代化,现金及各种证件被各种卡片所取代。其中智能卡是最晚出现也是最有前途的一种卡。它将取代现在广泛使用的光电卡、条码卡、磁卡的地位而成为主流。智能卡由硬件资源与芯片操作系统COS(Chip Operating System)组成,COS是智能卡的核心。因此我们有必要对硬件资源及COS系统进行研究。本文研究内容源于交通运输部科技项目:交通运输行业射频识别应用安全测试关键技术及编码体系研究。非接触智能卡(CPU卡)是IC卡的一个分支,广泛应用于交通、医疗、金融和身份识别,但CPU的一些核心技术却大量依靠国外的成熟技术,影响了CPU卡的成本控制。本文主要内容是采用苏州国芯公司开发的高性能低功耗32位微处理器ET100芯片作为主控芯片,与载波为13.56MHz的射频芯片相连接,按照国际标准IS014443和IS07816来设计CPU卡开发板和COS系统。其中CPU卡开发板由ET100芯片、射频芯片、天线、电源组成,可以满足ISO 14443中TypeA标准来和读卡器进行通信。COS系统的开发主要包括数据传输、命令解析、文件系统、安全验证四个模块,其中文件系统是COS的主要部分,文件系统的开发包括文件的初始化、文件的创建、文件的删除、文件数据获取、文件的查询、文件数据写入。命令格式遵循IS07816协议的规定。本文搭建了由CPU卡开发板、读卡器和上位机构成的测试平台。设计了 FLASH读写功能和建立不同类型结构文件模型的测试。上位机软件可以通过读卡器自由控制发送命令,并且得到CPU卡开发板的回应,方便CPU卡开发板与读卡器的通信测试。ET100芯片的软件开发环境是CodeWarrior集成开发环境,可以方便地进行COS系统的程序开发;CPU卡开发板完全遵循IS014443中TypeA协议,可以和市面上所有遵循此协议的读写设备相互通信,通过上位机软件方便地进行命令调试;.COS系统移植性高。COS系统除了部分底层硬件驱动要修改,主要的文件系统可以方便的移植。(本文来源于《东南大学》期刊2017-01-06）
高原,肖培森[5]（2016）在《非接触式智能卡高数据传输率的分析与应用》一文中研究指出从非接触式智能卡通信标准ISO/IEC 14443出发,对848Kbps以上的高数据传输率技术的标准要求和应用实现进行了分析,并与当前在用的智能卡数据传输率在信号调制、初始化、防冲突和指令交互等方面进行了对比。为验证该传输协议的标准符合性,从测试标准角度介绍了ISO/IEC 10373-6对高数据传输率相关测试内容,论述了高数据传输率的未来应用。(本文来源于《警察技术》期刊2016年06期）
李鹏飞[6]（2015）在《非接触式智能卡数字电路的研究与实现》一文中研究指出非接触式智能卡作为微电子技术和计算机技术完美结合的精灵,广泛应用于社会的各行各业,并逐步成为全球智能卡市场的主流。其涉及到了模拟电路、数字逻辑、计算机组成原理、软件驱动程序开发、通信原理、安全秘钥算法等多方面的技术领域,是一个典型的SoC系统。本论文研究工作围绕微处理器与各外设模块的通信交互展开,重点研究了收发数通信接口单元和存储器组织结构,主要工作内容包括:(1)了解智能卡的应用需求和发展现状,深入研究ISO/IEC 14443 TypeA协议,根据需求和协议要求设计合理的芯片系统架构,集成模拟电路、微处理器、存储器设备、安全算法模块、收发数通信接口单元及其他外设模块,并且这个完整的系统还需要软件方面的Bootloader、COS的参与。(2)解决BES2416V10芯片的收数性能问题,使其能够满足极端情况下的正确收数性能,设计中从系统上考虑整体性能。模拟与数字电路密切配合工作,模拟提供必要信号,数字协助模拟作一定的调节和校正,提出了时钟切换电路、收数模块时钟纠偏等方法。这种从系统考虑性能,数模混合的设计是本文研究的一大重点。针对EEPROM的时序要求,设计以M8051EW这款CPU为核心的存储器管理控制逻辑。(3)设计完成后,经过全面的仿真验证和FPGA验证,芯片在SMIC 0.18μm CMOS Mixed-signal 1P4M工艺下流片。借助MP300TCL2测试工具,借鉴ISO/IEC10373-6协议的测试案例,对芯片进行比较完备的功能测试。测试结果说明,该芯片的功能和性能基本符合ISO/IEC 14443 TypeA规范要求,并且能和不同的读卡器进行简单的应用交易,可初步实现产品化。本研究成果在收发数性能上具有很强的对极端情况的适应性,能够有效地提高智能卡的稳定性。并且本芯片研究与实现的成功实践,不仅具有很强的实用性,而且对SoC架构设计、仿真验证、FPGA验证和智能卡产品测试,均具有很好的参考价值。(本文来源于《北京工业大学》期刊2015-07-01）
熊杰,王旭,邱旭华[7]（2014）在《非接触式智能卡协议测试系统的设计与实现》一文中研究指出针对智能卡协议测试存在的自动化和标准化程度低、脚本复用性差等问题,提出了一种非接触式智能卡协议测试系统Proxi CPTS(Protocol Test System of Proximity Card)。系统采用分层结构和模块化设计的思想,通过硬件抽象层屏蔽测试设备的不一致,构建功能函数库以实现代码隔离,采用工程化方法管理测试用例,支持系统扩展。实际应用表明,该系统能够提高测试效率,且系统结构清晰,具有较高的可维护性,可以满足自动化测试的应用需求。(本文来源于《计测技术》期刊2014年06期）
苏建南,卢小冬,单强[8]（2014）在《一种多码率非接触式智能卡解码器设计》一文中研究指出在0.18μm 2P4M CMOS工艺上实现了一种符合ISO/IEC 14443 TYPE A(2008)协议的多码率非接触式智能卡专用集成电路解码器。解码器通过两个同步计数器的状态组合恢复单位编码时钟,引进中间变量输出不归零码。采用上升沿触发计数器,优化凹槽容差性能,避免因凹槽信号导致的电源毛刺对数据的影响。测试结果表明,该解码器支持106 kb/s,212 kb/s,424 kb/s和848kb/s四种码率的改进Miller编码数据解码,对应不同码率均有高凹槽容差性能,满足非接触式智能卡性能要求。(本文来源于《微电子学》期刊2014年04期）
黄雪晴[9]（2014）在《非接触式智能卡芯片设计中的功耗优化》一文中研究指出非接触式智能卡以其可靠性高、操作方便等优点得到广大用户的青睐，并已被广泛应用于公交、医疗、门禁一卡通等领域。但非接触式智能卡本身不带电源，需要通过天线从读卡器上获取能量完成各项交易，这对其功耗提出了挑战。过高的功耗将导致IR Drop、电流密度过大以及电子迁移等问题，同时功耗引起的温度上升还会影响到器件和互连线的性能和延时，直接影响到芯片的功能和稳定性。对设计进行功耗优化已越来越迫切。论文首先详细分析了静态功耗和动态功耗的定义，针对高功耗带来的IRDrop以及电迁移等问题提出解决方案。然后从非接触式智能卡芯片的后端设计角度出发，基于Synopsys公司的数字后端设计平台，依据全面的功耗分析，主要从逻辑设计、布图以及时钟网络设计叁方面对芯片作最大程度的功耗优化：在逻辑设计阶段，根据芯片模块特征调整编译策略以及设计约束，并以正常工作时信号的平均翻转状况为凭依，提出对芯片进行增量编译的方案；布图阶段则引入芯片的平均及实时功耗信息，以各个模块的电流消耗指导布图规划以及电源规划，最大程度优化IR Drop以及电流密度；在时钟网络设计阶段，引入一种基于寄存器自身状态值，利用异或门进行选通的自我门控技术，并在综合考虑面积、功耗以及时钟信号各项参数的前提下，通过对设计参数的反复迭代尝试，选择反向器时钟树架构，自底向上地搭建芯片的时钟网络。对芯片完成全部后端流程，使时序、利用率等参数与上一流片版本保持基本一致，保证设计的延续性。并对芯片完成各项验证，保证芯片设计的正确性。通过与上一版各项功耗参数进行对比，设计总功耗降低了38.4%，电压降和地弹分别减少了40.1%和30.5%，电源线和信号线的电流密度则分别缩减了4.6%和20%。仿真结果表明，在不影响芯片正常功能的基础上，本论文成功完成了对非接触式智能卡的功耗优化。总结对非接触式智能卡进行功耗优化的过程，依据该芯片的成功设计，提出一套基于全面功耗分析的后端设计优化流程。即在进行设计时，依据穿插在各个阶段的功耗、IR Drop以及电迁移的分析结果对芯片进行功耗优化，在不断迭代的过程中逐步取得较优结果。为后续芯片设计功耗优化提供了借鉴意义。(本文来源于《北京工业大学》期刊2014-06-25）
徐洋,万培元,林平分[10]（2014）在《一种应用于非接触智能卡锁相环连续时钟电路》一文中研究指出本文针对13.56MHz非接触智能卡芯片(符合ISO/IEC14443 type A协议标准)特殊应用,实现一种基于锁相环结构的连续时钟电路。电路在载波存在或丢失情况下,均能提供稳定准确的时钟频率,连续时钟电路输出13.56MHz时钟,功耗60μA,面积为165X150μm2。芯片经过SMIC 0.18μm eFlash工艺流片验证,测试表明在协议规定的1.5A/m-7.5A/m场强范围,各种交互波形情况下,芯片均工作正常。(本文来源于《中国集成电路》期刊2014年05期）
接触式智能卡论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
随着非接触式智能卡的应用越来越广泛,人们对智能卡安全性提出了更高的要求,尤其是在金融等行业,智能卡的安全性尤为重要。本文主要研究非接触式智能卡的安全性,论文讨论了一种非接触式智能卡电磁辐射信息采集方法,并设计、制作和测试了电磁辐射信息平台。利用该采集平台,采集了某类非接触式智能卡的电磁泄露信息,进行了常规时频域分析和边信道密钥分析,利用DEMA、CEMA等电磁攻击方法对目标卡片实施了攻击,并对电磁泄露信息采集、信号预处理、密码分析算法等内容进行了测试和评估。本文首先介绍了非接触式智能卡的工作原理、相应的国际标准ISO14443-A协议、芯片的操作系统、通用指令集以及片内DES加密算法等内容。然后阐述了基于边信道攻击的电磁信息泄露机理、搭建了一个通用电磁泄露信息采集平台。在该平台中,讨论了信号预处理模块的作用和意义,设计、制作、测试了几种预处理方法,对比分析了预处理的效果。其中,本文把预处理模块分为模拟预处理和数字预处理两类。论文分别从理论效果、实现代价、实际效果等多方面进行了预处理方法分析和评价。本文利用自主设计的电磁泄露信息采集平台,采集了多组某非接触式卡的电磁泄露信息。然后对这些数据进行滤波、对齐、算法分析等边信道攻击。在攻击曲线的数目、预处理方式和对应攻击曲线频率分量不同的情况下,能得到攻击出的第一轮子密钥。根据相关电磁攻击的第一轮子密钥对不同的预处理方法进行性能评估,总结出利用电磁攻击方法进行攻击时需要的能量迹数目和非接触式CPU卡的安全性能。本文设计的电磁辐射信息采集平台不仅可用于非接触式智能卡的电磁泄露信息采集和分析,也可以用于一般的智能卡、密码芯片等信息安全设备的电磁泄露采集和分析,可作为一种边信道攻击的电磁信息采集通用平台。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
接触式智能卡论文参考文献
[1].史春腾.基于ISO/IEC14443协议非接触式智能卡读写设备测试方法研究[J].中国标准化.2019
[2].杜文烽.基于ISO14443协议非接触式智能卡的边信道攻击研究及实现[D].电子科技大学.2018
[3].狄辉.非接触式CPU智能卡读写器系统的设计与实现[D].杭州电子科技大学.2018
[4].徐良.非接触智能卡的研究和设计[D].东南大学.2017
[5].高原,肖培森.非接触式智能卡高数据传输率的分析与应用[J].警察技术.2016
[6].李鹏飞.非接触式智能卡数字电路的研究与实现[D].北京工业大学.2015
[7].熊杰,王旭,邱旭华.非接触式智能卡协议测试系统的设计与实现[J].计测技术.2014
[8].苏建南,卢小冬,单强.一种多码率非接触式智能卡解码器设计[J].微电子学.2014
[9].黄雪晴.非接触式智能卡芯片设计中的功耗优化[D].北京工业大学.2014
[10].徐洋,万培元,林平分.一种应用于非接触智能卡锁相环连续时钟电路[J].中国集成电路.2014