导读:本文包含了射线掠入射衍射论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:宏观内应力,掠入射X射线衍射(GIXRD),折射,误差
射线掠入射衍射论文文献综述
杜继实,唐兵华[1]（2018）在《宏观内应力掠入射衍射分析中X射线折射作用引入的误差》一文中研究指出宏观内应力X射线掠入射衍射分析中,X射线折射作用引入的衍射角测定误差必然对分析产生影响。本文基于数值方法计算了Euler角定位及Hauk角定位的X射线掠入射衍射分析中因X射线折射作用引入的衍射角测定误差及其在几种宏观内应力测试方法中引入的应变测定误差。在一定角度范围内采用侧倾法可避免X射线折射作用引入的应变测定误差,而采用侧倾法及固定X射线有效穿透深度的Ψ-Ω法测试时必须对测定结果进行数据修正。(本文来源于《人工晶体学报》期刊2018年07期）
刘忠良,康朝阳,唐军,陈香存,徐彭寿[2]（2012）在《SiC/Al_2O_3界面结构的同步辐射X射线掠入射衍射研究》一文中研究指出采用固源分子束外延技术,以Al2O3为衬底,在1100℃下制备SiC薄膜。利用同步辐射X射线掠入射(GID)实验技术对生长的样品的界面结构进行了研究。结果表明,薄膜面内存在压应变,同时发现薄膜晶体质量在远离薄膜和衬底界面区会逐渐变好。GID和X射线衍射的摇摆曲线结果表明薄膜中镶嵌块的扭转大于倾斜,说明SiC薄膜在垂直方向的晶格排列要比面内更加有序。(本文来源于《真空科学与技术学报》期刊2012年01期）
姜晓明,贾全杰,郑文莉,刘鹏,冼鼎昌[3]（2000）在《同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用》一文中研究指出利用北京同步辐射装置漫散射实验站的五圆衍射仪，建立了掠入射Ｘ射线衍射实验方法．对Ｓｉ表面生长的Ｇｅ／Ｓｉ量子点及其在Ｓｉ表层产生的应变进行了成功测量，表明此方法可以有效地提取表面层的微弱信号．实验结果表明，Ｇｅ／Ｓｉ量子点的形成除了在Ｓｉ衬底表层形成了晶格具有横向膨胀应变的区域之外，还在Ｓｉ衬底中形成了具有横向压缩应变的区域．(本文来源于《高能物理与核物理》期刊2000年12期）
崔树范,吴兰生,王观明,麦振洪,王春艳[4]（1994）在《GaAs／GaP界面的X射线掠入射衍射分析》一文中研究指出本文用掠入射全反射Ｘ射线衍射，结合常规Ｘ射线衍射，对ＧａＡｓ／ＧａＰ应变层界面进行了研究，给出了界面关配度、薄膜晶胞的畸变和界面弛豫等结构参数．结果表明掠入射衍射（ＧＩＤ）是测定半导体薄外延膜界面结构的有效工具．(本文来源于《半导体学报》期刊1994年02期）
射线掠入射衍射论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
采用固源分子束外延技术,以Al2O3为衬底,在1100℃下制备SiC薄膜。利用同步辐射X射线掠入射(GID)实验技术对生长的样品的界面结构进行了研究。结果表明,薄膜面内存在压应变,同时发现薄膜晶体质量在远离薄膜和衬底界面区会逐渐变好。GID和X射线衍射的摇摆曲线结果表明薄膜中镶嵌块的扭转大于倾斜,说明SiC薄膜在垂直方向的晶格排列要比面内更加有序。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
射线掠入射衍射论文参考文献
[1].杜继实,唐兵华.宏观内应力掠入射衍射分析中X射线折射作用引入的误差[J].人工晶体学报.2018
[2].刘忠良,康朝阳,唐军,陈香存,徐彭寿.SiC/Al_2O_3界面结构的同步辐射X射线掠入射衍射研究[J].真空科学与技术学报.2012
[3].姜晓明,贾全杰,郑文莉,刘鹏,冼鼎昌.同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用[J].高能物理与核物理.2000
[4].崔树范,吴兰生,王观明,麦振洪,王春艳.GaAs／GaP界面的X射线掠入射衍射分析[J].半导体学报.1994
标签：宏观内应力; 掠入射X射线衍射(GIXRD); 折射; 误差;