本文主要研究内容
作者刘学（2019）在《开关柜局部放电综合检测方法的研究与应用》一文中研究指出：局部放电是导致绝缘缺陷的主要因素,同时也是开关柜出现绝缘劣化的重要表征。通过对局部放电信号进行带电检测,可找出开关柜存在的绝缘缺陷,防止出现意外停电的情况。及时地消除缺陷,电网才能保持安全、稳定的运行。目前,业界已采用各种方法来检测高压开关柜。某种程度上,有助于检测开关柜内所发出的局部放电信号。但是,电磁、噪声容易对高压开关柜造成干扰。若只是采用带电检测法,很难判断局部放电信号的准确位置。因此,我们必须采用先进的带电检测技术,分析高压开关柜的带电情况,保证检测结果的准确无误。
Abstract
ju bu fang dian shi dao zhi jue yuan que xian de zhu yao yin su ,tong shi ye shi kai guan gui chu xian jue yuan lie hua de chong yao biao zheng 。tong guo dui ju bu fang dian xin hao jin hang dai dian jian ce ,ke zhao chu kai guan gui cun zai de jue yuan que xian ,fang zhi chu xian yi wai ting dian de qing kuang 。ji shi de xiao chu que xian ,dian wang cai neng bao chi an quan 、wen ding de yun hang 。mu qian ,ye jie yi cai yong ge chong fang fa lai jian ce gao ya kai guan gui 。mou chong cheng du shang ,you zhu yu jian ce kai guan gui nei suo fa chu de ju bu fang dian xin hao 。dan shi ,dian ci 、zao sheng rong yi dui gao ya kai guan gui zao cheng gan rao 。re zhi shi cai yong dai dian jian ce fa ,hen nan pan duan ju bu fang dian xin hao de zhun que wei zhi 。yin ci ,wo men bi xu cai yong xian jin de dai dian jian ce ji shu ,fen xi gao ya kai guan gui de dai dian qing kuang ,bao zheng jian ce jie guo de zhun que mo wu 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自科技风的刘学，发表于刊物科技风2019年17期论文，是一篇关于开关柜论文,局部放电论文,综合检测方法论文,应用论文,科技风2019年17期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自科技风2019年17期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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